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Shanghai Renhe Scientific Instrument Co., Ltd.
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Misuratore portatile di difetti ottici 3D GFM
Applicazioni precise, veloci e portatili: rilevamento e analisi in loco di graffi, crepe, usura, graffi, cavi, taglio, corrosione e altri difetti supe
Dettagli del prodotto


Accurato, veloce e portatile

Applicazioni:

Rilevazione e analisi in loco di graffi, crepe, usura, graffi, cavi, taglio, corrosione e altri difetti superficiali in metalli, materiali compositi, tessuti e altri materiali;

Rilevamento tridimensionale di rivettatura, saldatura, cuciture, ecc. Differenza di fase e convessione; Analisi di misurazione della rugosità superficiale tridimensionale;

misurazione di dimensioni geometriche di fori di nidificazione, profondità di scanalatura, arco circolare, angolo invertito, ecc.;

Principio di misurazione

Il misuratore ottico 3D portatile di graffi superficiali sviluppato dalla società tedesca GFM sulla base della tecnologia di proiezione di fase a strisce laser e del chip di elaborazione dell'immagine ad alta velocità DSP, per il rilevamento delle caratteristiche della qualità della superficie sul campo, ha i vantaggi di velocità di misurazione rapida, precisione di misurazione, portabilità e altri.

Caratteristiche dello strumento:

Rilevamento in campo portatile di difetti di graffi superficiali di parti di grandi dimensioni, diversi parametri delle caratteristiche geometriche della superficie e altri;

Misura tridimensionale dei difetti di graffio superficiale, rilevando intuitivamente la parte più profonda del difetto di graffio tramite un grafico topologico di differenza cromatica;

Software di analisi professionale della misura dei graffi, diversi modi di filtraggio: contiene filtro multinomiale, filtro gaussiano, filtro medio, ecc., Elimina efficacemente l'effetto del contorno della superficie, dell'inclinazione, del segnale rumoroso, delle strisce, della polvere e altri fattori sui risultati di misurazione;

La progettazione del percorso ottico a grande inclinazione e la sorgente di luce a LED blu, la misurazione non è influenzata da una superficie ad alta riflessione;

Pacchetto SDK, interfaccia strumentale aperta, che può essere sviluppata secondariamente;

Accessori per strumenti

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